艾博納原子力顯微鏡（AFM）維持納米研究的前沿技術(shù)，具有原子級(jí)超高分辨率，高水平的性能?？稍诖髿夂鸵后w環(huán)境中對(duì)樣品進(jìn)行探測或進(jìn)行納米操控。其測試功能強(qiáng)大、操作簡單，除配備接觸模式、非接觸模式、輕敲模式，也可選配用戶需要的模式。我們的系統(tǒng)經(jīng)過專業(yè)的設(shè)計(jì)，可對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行各類數(shù)據(jù)分析，更加方便、快捷完成測試需求。

　　艾博納原子力顯微鏡（AFM）配備了高精度的電動(dòng)X、Y、Z軸平移臺(tái)，具備滾珠絲杠和交叉滾柱導(dǎo)軌，確保了精確的樣品操作和定位。此外，該設(shè)備具有研究級(jí)的頂視視頻光學(xué)顯微鏡，提供清晰的樣品觀察。它還包括多個(gè)掃描儀，以優(yōu)化掃描條件，支持系統(tǒng)的定制和擴(kuò)展。設(shè)備的模塊化設(shè)計(jì)允許用戶根據(jù)需求添加額外的功能和模式，如圖像記錄器、光刻和液體掃描。簡易的探頭更換機(jī)制和激光桿的廣泛調(diào)節(jié)范圍提供了額外的操作便利。